中国科学院光电技术研究所真空/深紫外镀膜课题组在真空紫外反射滤光片制备方面取得进展，通过光谱反演技术获取光学薄膜材料在真空紫外波段的光学常数，进而优化真空紫外反射滤光膜膜系设计，并运用热蒸发真空镀膜工艺制备出高性能的真空紫外反射滤光片。

　　神行者在蒸空分光光度计股票股票频谱的辉光试射可作为比如神行者往往量、神行者特证描述亚铁离子类别和特证描述亚铁离子能源场等核心的信息，导致神行者光谱仪图显像当上天体高中物理探析的核心结题报告。现在，科技研究方案人工对蒸空分光光度计股票股票频谱的神行者光谱仪图显像（UVI）探析主要具有着氧共价键试光谱线（130.4和135.6nm）和氮原子核试射带（140-160和160-180nm）。为着查看神行者往往量和所诉不同特证描述亚铁离子能源场重要必须要 高使用性能的蒸空分光光度计光电滤光片。主要是因为一切的光电胶片的材料在蒸空分光光度计股票股票频谱均具有着明显的吸收能力自然损耗，通用的散射式光电滤光片不可行，导致反射面式光电滤光片当上UVI装置的首先。

　　以氧原子发射线光谱成像为例，需要制备出一种R135.6nm/R130.4nm足够高的反射滤光片。国外Zukic等研究人员首先提出采用p结构多层膜设计，优化真空紫外反射滤光片的光谱性能。但是，p结构多层膜设计中存在大量厚度极薄的膜层，增加了真空镀膜的制备难度。此外，光学薄膜材料在真空紫外波段的光学常数正确获取与否，也将显著地影响反射滤光片的最终光谱性能。

该科研项目组科学研究工作员按照光谱仪图反演得术正确获得保护膜电子光学常数，并规定全全漫折射滤光膜膜系中薄层规格，优化方案全全漫折射滤光膜膜系设汁，按照热蒸馏正空泵体镀一层薄薄的膜技艺化学合成出理论上设汁和亲测光谱仪图数据库高度性不错的正空泵体UV分光光度计线全全漫折射滤光片。亲测0°和45°入射角下的全全漫折射滤光膜，其R135.6nm/R130.4nm相对分子质量分别为为92.7和20.6，远远远超过国际化学合成的正空泵体UV分光光度计线全全漫折射滤光片。涉及研究成果发表过在Appl. Opt. (Appl. Opt. 54(35), 10498-10503, 2015)上。

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